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第四講 連接器的測試詳解

發(fā)布時間:2009-08-01 來源:整理自互連技術(shù)論壇

中心議題:
  • 連接器測試的目的
  • 連接器測試程序的分類
  • 連接器測試的主要項目
連接器測試的目的是確認產(chǎn)品的功能是否已達成設(shè)計目標以及產(chǎn)品是否能夠達到應(yīng)用要求。測試將作為設(shè)計/產(chǎn)品開發(fā)階段的一個延續(xù)加以考慮。藉適當?shù)臏y試選擇、排序以及嚴格的水平,測試具有如下效果:
  • 評定設(shè)計能力
  • 評定產(chǎn)品對一般的機能失效的敏感度
  • 顯示出本領(lǐng)域中的期望性能
  • 作為失效模式分析的工具
  • 避免代價過高的領(lǐng)域更替(避免用于更高價值領(lǐng)域中的產(chǎn)品替換)
為了實現(xiàn)測試的潛在作用(益處),一個意義長遠的測試計劃的設(shè)計與開發(fā)要求在整個過程中具有自始至終的細心和邏輯性,如同創(chuàng)作與設(shè)計該產(chǎn)品本身一樣。

連接器測試程序的分類
有六種基本的測試程序是常用到的:
  • 設(shè)計校核測試
  • 驗收測試
  • 質(zhì)量鑒定測試
  • 長期性能(質(zhì)量)鑒定
  • 可靠性(強度)測試
  • 工程研究、分析性試驗
每個程序都具有不同的目的,并且需要進行復雜程度不同的測試并應(yīng)用特定的知識背景。

a. 設(shè)計校核測試
如其名稱所表示的那樣,設(shè)計校核測試(DVT)通常是用于確認一個產(chǎn)品是否達到了其預期的性能標準。DVT一般不包括順序測試,它只測試產(chǎn)品是否已達到了所設(shè)定的基本功能標準。例如,DVT包括總的電阻測試、耐用周期(或循環(huán)測試)及插拔配合力的測試。DVT是在產(chǎn)品開發(fā)過程中進行的,而且成為一個廣為認同的測試程序中必不可少的一部分。

b. 驗收測試
驗收測試通常在生產(chǎn)加工過程進行并成為終檢的一部分,它包括一個或兩個獨立的測試,藉這些測試以保證產(chǎn)品之特定屬性達到要求的性能質(zhì)量的水平并符合產(chǎn)品運行要求。它是生產(chǎn)過程的一部份,其使用程度是由最終使用者自己來決定的,并基于品保的目的也可被采購部門加以利用。

c. 質(zhì)量鑒定
質(zhì)量鑒定通常結(jié)合設(shè)計的需要進行一系列連續(xù)測試(也就是對電鍍類型及鍍層厚度,端子材料等的測試),這將使Connector/Socket有條件達到一個特定的規(guī)格要求,而這種規(guī)格也許來自于產(chǎn)品、最終使用者或工業(yè)標準。測試環(huán)境的保持時間一般是較短的或適度的(大約是100或240個小時),且其包括對類型廣泛的各種特性或運行特征的監(jiān)測。最普通的質(zhì)量鑒定測試類型是以軍用的規(guī)格來要求的。這些測試不需要測定連接器系統(tǒng)的長期運行性能,但要確定是否有嚴重的問題存在。正常的質(zhì)量鑒定測試僅僅在于解決已有技術(shù)和已知的材料體系問題。

d. 長期性能(質(zhì)量)鑒定
這種測試涉及以長期暴露方式進行、并且通常集中于對連接器系統(tǒng)的電氣穩(wěn)定性評估方面的一系列連續(xù)測試,確定持續(xù)暴露時間以確定在該產(chǎn)品或體系的預計壽命內(nèi),其是否對與時間有關(guān)的失效機理敏感。(測試)持續(xù)時間長度的確定即依賴于經(jīng)驗,也依賴于與本領(lǐng)域的測試條件/暴露時間有關(guān)的綜合因素。
  
從使用者的角度來看,所選擇的測試環(huán)境及(測試)持續(xù)時間只需要反映出所考慮的特定應(yīng)用情況下的問題即可。而從制造商的角度來看,尤其對于一個普通意義的產(chǎn)品而言,測試程序必須多樣化以能夠反映出較大范圍的應(yīng)用條件/要求。這類測試對于新技術(shù),末確定的材料體系,以及全新的設(shè)計概念作出了很正規(guī)地評估。

e. 可靠性測試
在傳統(tǒng)的觀念中可靠性測試是復雜的,也很少在連接器上進行,這種根據(jù)操作環(huán)境和應(yīng)功能需要的測試在應(yīng)用上是明確的??煽啃詼y試包括在預計的應(yīng)用環(huán)境中進行的持續(xù)一定時間的耐久性測試,以及大尺寸樣品的大量數(shù)據(jù)采集點,而這需要對采集的數(shù)據(jù)進行深入地統(tǒng)計學上的處理。Mroczkowski and Maynard對這方面進行了更詳細的闡述。
只有在考慮到批量和應(yīng)用的長久性時,可靠性測試在經(jīng)濟上才是可行的。確定了的可靠性僅能應(yīng)用于最初流程中的相關(guān)的設(shè)計特征及生產(chǎn)指數(shù)上。在確定了一個產(chǎn)品的可靠性級數(shù)(或程度)后設(shè)計/材料的變化會使可靠性評估毫無效果。在本章中將不對這類測試作詳細的討論。

f. 工程研究、分析性試驗
這項試驗包括工藝試驗和設(shè)計結(jié)構(gòu)更改的研究性試驗兩個主要方面。其目的和任務(wù)是:對批生產(chǎn)的產(chǎn)品所發(fā)生的質(zhì)量問題進行分析研究;擬定新的設(shè)計結(jié)構(gòu),改進現(xiàn)有的設(shè)計結(jié)構(gòu);確定材料代用或采用新工藝、新技術(shù)的可能性;考核產(chǎn)品能否滿足技術(shù)條件之外的特殊要求。

主要測試項目
以上所述各種類型的連接器測試,可分別由下列各種測試單元項目來組成。
  • 電氣性能測試
  • 環(huán)境性能測試
  • 機械性能測試

a. 電氣性能測試
主要測試項目和介紹如下:
耐壓試驗:目的是為了驗證電連接器在額定工作電壓下能否安全工作,并驗證耐受由于轉(zhuǎn)換、浪涌和其他類似現(xiàn)象引起的瞬時過電壓的能力。

絕緣電阻:目的是為了確立測定電連接器的絕緣材料及各密封件在能使這些元件表面或通過其內(nèi)部產(chǎn)生漏電流的直流電壓作用下,所呈現(xiàn)的電阻的方法。

接觸電阻:目的是采用測量通過規(guī)定電流的接觸件兩端毫伏壓降,來測定搭接了一定長度導線的插合的電連接器的接觸件的電阻。

外殼間電連續(xù)性:目的是為了確定在摸擬的使用條件下的電連接器外殼的電連續(xù)性

導磁率:目的是為了驗證樣品的導磁率是否低于規(guī)定值。

b. 環(huán)境性能試驗
主要測試項目和介紹如下:
鹽霧:目的是為了確定電連接器在有控制的鹽液噴霧大氣中暴露后對電連接器的元件,表面處理層,機械結(jié)構(gòu)及允許的電氣參數(shù)等產(chǎn)生的影響.

濕熱試驗:確定電連接器在高溫及高濕環(huán)境條件下的適應(yīng)性

溫度循環(huán):為了確定電連接器暴露在模擬的貯藏,運輸及使用過程中可能發(fā)生的最惡劣條件的極限高溫、極限低溫時,以及暴露在極限高、低溫交替的沖擊時的耐受能力。

低氣壓浸漬:驗證一對插合電連接器組裝件的連接器至導線間和界面密封處對摸擬的由高空迅速下降時及其后伴隨的潮氣冷凝水的密封能力。

溫度壽命:確定電連接器在規(guī)定時間內(nèi)暴露在環(huán)境高溫中引起對電連接器電特性和機械特性的影響。

臭氧暴露:確定電連接器耐受一定量臭氧作用的能力。

防火:為了確定接好導線并插合好的電連接器在專用標準規(guī)定的火焰溫度下經(jīng)過一定時間后耐火焰的能力。

液體浸漬:確定電連接器暴露在它的使用壽命過程中可能接觸到的特定液體中耐惡化的能力。

低溫低氣壓:了模擬低溫條件下的實際使用工作情況,并在模擬高空條件下施加試驗電壓的情況。

c. 機械性能試驗
主要測試項目和介紹如下:

沖擊:目的是為了確定電連接器及其附件在承受粗魯作業(yè)、運輸和軍事行動發(fā)生沖擊時的適用性。

振動:目的是為了確定由電連接器在壽命期間可能遇到在主要頻段或隨機振動頻段范圍內(nèi)及其幅度上受振動的影響情況

電纜拉脫:目的是考核電纜或電連接器承受偶然軸向張力負荷時的能力。

恒加速度:目的是用以驗證電連接器承受預計的使用加速度環(huán)境的能力,以確保在此環(huán)境下產(chǎn)品結(jié)構(gòu)和性能不發(fā)生失效。

撞擊:目的是為了確定電連接器耐受在分離并落到地面上時可能遇到的撞擊的能力。本試驗僅適用于設(shè)計符合該項要求的電連接器。

機械壽命:目的是為了確定電連接器或接觸件受到插合的分離循環(huán)的影響,這種插合的分離是摸擬電連接器使用期的機械壽命。

絕緣體安裝板固定性:目的是為了確定電連接器中絕緣體的固定機構(gòu)的適應(yīng)性和絕緣體材料的強度,以及確立電連接器耐受組合的接觸件插合和分離力產(chǎn)生的軸向負荷的能力。

接觸件固定性:目的是在電連接器的接觸件上施加一個軸向力,以確定電連接器耐受使接觸件從電連接器絕緣體中的正確位置產(chǎn)生位移的力的能力和耐受接觸件不脫出的能力。

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